Termín:interferencia na tenkej vrstve: Rozdiel medzi revíziami

Z STD
Prejsť na: navigácia, hľadanie
(Podkategoria Optika)
 
(Jedna medziľahlá úprava od rovnakého používateľa nie je zobrazená.)
Riadok 4: Riadok 4:
 
|Field=fyzikálne vedy
 
|Field=fyzikálne vedy
 
|Related terms=index lomu
 
|Related terms=index lomu
|Bibliography=Červeň, I: Príručka fyzikálnych pojmov a vzťahov. Bratislava : STU 2009
+
|Bibliography=Červeň, I.: Príručka fyzikálnych pojmov a vzťahov. Bratislava: STU 2009.
 
|Acceptability=Odporúčaný
 
|Acceptability=Odporúčaný
|Comment=Výsledok interferencie závisí od vlnovej dĺžky svetla, hrúbky vrstvy, jej indexu lomu a od uhla dopadu. Interfencia sa využíva na meranie hrúbok tenkých vrstiev.
+
|Comment=Výsledok interferencie závisí od vlnovej dĺžky svetla, hrúbky vrstvy, jej [[Term:index lomu|indexu lomu]] a od uhla dopadu. Interfencia sa využíva na meranie hrúbok tenkých vrstiev.
 
}}
 
}}
 
[[Category:Fyzika]]
 
[[Category:Fyzika]]
 
[[Category:Optika]]
 
[[Category:Optika]]

Aktuálna revízia z 11:57, 14. jún 2023

Odporúčaný termín [?]

Oblasť: fyzikálne vedy
Definícia: interferencia svetelnej vlny odrazenej od hornej strany tenkej vrstvy (nanesenej na rovinnú podložku) s vlnou odrazenou na rozhraní tenkej vrstvy a jej podložky
Zdroj: Červeň, I.: Príručka fyzikálnych pojmov a vzťahov. Bratislava: STU 2009.

Príbuzné termíny: index lomu
Poznámka: Výsledok interferencie závisí od vlnovej dĺžky svetla, hrúbky vrstvy, jej indexu lomu a od uhla dopadu. Interfencia sa využíva na meranie hrúbok tenkých vrstiev.